膜的結(jié)構(gòu)和形貌計(jì)量儀器,膜的表征和性質(zhì)檢測(cè)
膜的表征和性質(zhì)檢測(cè)方法
很顯然,對(duì)于功能膜材料,我們首先考慮的是這種材料的性能
。但為了更好地了解其性能產(chǎn)生的機(jī)制和探尋膜材料與性能之間的
聯(lián)系,對(duì)其進(jìn)行一定的表征以確定膜的組成、結(jié)構(gòu)、形貌、完整度
等等則是非常必要的。同時(shí),利用合適的方法對(duì)功能薄膜的特性進(jìn)
行檢測(cè),使其功能性得以表達(dá)并對(duì)其功能的好壞進(jìn)行評(píng)價(jià),也是十
分重要的。
對(duì)于一個(gè)化學(xué)工作者來說,最容易想到的就是各種譜學(xué)表征方
法。在這里,我們將簡要介紹以下幾種最常用的譜學(xué)方法:紫外可
見光譜(UV—Vis spectroscopy)、紅外光譜(1Rspectroscopy)、拉
曼光譜(Raman spectroscopy)、熒光光譜(fluorescencespectrosc
opy)及光電子能譜(photoelectronspectroscopy)等。這些譜學(xué)方
法所反映的主要是分子及其聚集體的行為。通過這些光譜及其與體
相光譜的比較,我們可以推測(cè)膜中分子或其聚集體的存在形式及其
與體相材料的區(qū)別。
膜的結(jié)構(gòu)和形貌對(duì)其性質(zhì)也有很大的影響。顯微技術(shù)一向是表
征膜形貌最直接最有效的工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步,各種顯微技術(shù)的
發(fā)展為我們研究薄膜形貌提供了更多的選擇余地。在本章的第二節(jié)
鏡)、電子顯微鏡(包括透射電鏡和掃描電鏡)及掃描探針顯微鏡在
膜表征上的應(yīng)用。此外,X射線衍射技術(shù)對(duì)于多層膜的表征也是最
為常用的手段之一。
對(duì)膜的光學(xué)、電學(xué)及表面性質(zhì)的常用檢測(cè)手段�,F(xiàn)代科學(xué)技術(shù)
的發(fā)展正在不斷地完善原有的檢測(cè)技術(shù)和儀器設(shè)備,同時(shí)也帶來了
許多新方法和新儀器。