光率體橢圓半徑的方位是指光率體橢圓半徑與礦物結(jié)晶
礦物切面光率體橢圓半徑名稱及方位測定
光率體橢圓半徑的方位是指光率體橢圓半徑與礦物結(jié)晶軸、晶面、解理紋、雙晶紋等結(jié)
晶方向之間的關(guān)系,可用光率體橢圓半徑與上述結(jié)晶方向成多少夾角來描述和記錄。這里
所指的方位,是指光率體橢圓半徑的位置,與十字絲的關(guān)系。測定步驟如下:
(1)將選好的礦片移至視域中心,轉(zhuǎn)物臺使礦片消光。此時礦片光率體橢圓半徑的方
向與目鏡十字絲方向一致。
(2)轉(zhuǎn)物臺45°,礦片干涉色最亮。此時礦片光率體橢圓半徑方向與十字絲呈45°交角。
插入試桁確簾千濰任縣升高環(huán)縣隆低.若干洗任隆低說明礦片與試桁光室伙橢同導(dǎo)名半
徑平行;平行試板長邊方向的礦片光率體橢圓半徑為長半徑,另一方向?yàn)槎贪霃�;若干涉�?/div>
升高,說明礦片與試板光率體橢圓同名半徑平行:平行試板長邊方向的礦片光率體橢圓半徑
為短半徑,另一方向?yàn)殚L半徑。
測定光率體橢圓半徑的名稱,關(guān)鍵在于正確判定干涉色的升降。為了保證判斷準(zhǔn)確,需
注意以下幾點(diǎn):
①選擇合適的試板。通常干涉色Ⅱ級黃以下選用石膏試板;Ⅱ級黃以上選用云母試
板;Ⅲ級以上選用石英楔。
②用—種試板難以準(zhǔn)確判斷時,可以輪換用多種試板,多種試板的判定結(jié)果應(yīng)該是一
致的。
③可以從消光位順轉(zhuǎn)物臺45°,再反轉(zhuǎn)物臺45°兩個位置上先后進(jìn)行觀察,互相驗(yàn)證如
果—個位置上干涉色是升高的,那么,另一個位置上干涉色應(yīng)是降低的。
④測定完畢后,及時從試板孔中抽出試板,以免升降鏡筒時損壞試板和
顯微鏡。
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上海光學(xué)儀器廠,轉(zhuǎn)載請注明