電子顯微方法的分類與基本原理達到約0．5μm
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
電子顯微方法的分類與基本原理達到約0．5μm
電子顯微方法(electron microscopy)
們認識世界的能力有了質的飛躍，在微觀世界里我們更加精確地了
解了物質的本質。但是由于可見光波長的限制，我們利用光學顯微
鏡的分辨極限只可達到約0．5 μm級別，再往下就因為光的衍射而
無法分辨了。為了提高顯微鏡的分辨率，人們很容易想到利用波長
更短的射線束來代替光束。這樣，電子顯微鏡就出現(xiàn)了。
電子顯微鏡可以分為兩大類：透射電子顯微鏡(transmission
electronmicroscope，TEM)和掃描電子顯微鏡(scanning electron
microscope，SEM)。透射電子顯微鏡是利用高能電子束來代替光
束，使之穿透薄層樣品，根據(jù)樣品不同部位電子穿透能力的不同或
穿過晶體時衍射圖樣的不同，經(jīng)過電磁透鏡放大后在熒光屏上成像
�，F(xiàn)代的TEM技術使得人們認識微觀世界的本領大大提高了，它可
以提供高達0．3 nm左右的分辨率，并可以工作在SEM模式或掃描透
射電子顯微鏡(STEM)模式。掃描電子顯微鏡是利用一束電子聚焦在
樣品表面并作掃描，探測其激發(fā)出的二次電子，然后利用二次電子
來調制一個與掃描電子束作同步掃描的顯示器，在顯示器上顯現(xiàn)出
樣品的相應圖像。目前SEM的分辨率已經(jīng)可以達到幾個納米了。
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