我們的經(jīng)驗(yàn)表明,掃描電鏡所起的作用界于光學(xué)巖石顯微鏡和電子探針之間,從某種
意義上來說,它是反光顯微鏡的一種延伸,可使分辨率提高到25埃
掃描電鏡的景深提供了對(duì)表面結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)進(jìn)行觀察的能力,并能給出微化石或多晶集合體
共生情況的三維圖象。
由于制樣簡(jiǎn)單,裝上固體探測(cè)器后,就能快速鑒定礦物,且使用的樣品可以是松散顆
粒,也可是光片或拋光的薄片。
掃描電鏡裝上圖象分析儀后,就可對(duì)樣品作定量的模式分析,其分辨率要比在光學(xué)巖
石顯微鏡上作圖象分析時(shí)的分辨力高得多。缺點(diǎn)是用這種設(shè)備,還不能對(duì)中粗粒巖石樣
品作模式分析。
使用掃描電鏡的主要優(yōu)點(diǎn)是:①制樣簡(jiǎn)單;②能快速鑒定礦物;③能作表面結(jié)構(gòu)觀
察;④能對(duì)很細(xì)粒的樣品和巖石作礦物定量分析。