微化石、礦物的晶體，多孔巖石的結(jié)構(gòu)分析顯微鏡
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
微化石、礦物的晶體，多孔巖石的結(jié)構(gòu)分析顯微鏡
在掃描電子顯微鏡研究中最使人感興趣的信號(hào)，是電子束轟擊樣品所激發(fā)出來的次
級(jí)電子和背散射電子。當(dāng)發(fā)射電子打到一個(gè)很小的面積上時(shí)，激發(fā)出的次級(jí)電子和背散
射電子信號(hào)，將隨該面積上表面形貌的不同而變化，從而給出一個(gè)分辨率很高的圖象。由
于掃描電鏡的景深較大，加上次級(jí)電子襯比的屏蔽效應(yīng)，因而還可獲得樣品的三維圖象
利用三維圖象已能對(duì)微化石、礦物的晶體形態(tài)，多孔巖石的結(jié)構(gòu)，
和礦物形變的微細(xì)特征等進(jìn)行鑒別和描述。掃描電鏡裝上作X射線能譜分析的固體探測(cè)
器之后，就可對(duì)所鑒定的樣品作定性和半定量的成分分析，使礦物的鑒定更加準(zhǔn)確可靠。
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