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礦石鑒定顯微鏡-使用光學式儀器檢測鉆石內結構

信息分類:生命科學資訊    作者:YIYI發(fā)布 

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礦石鑒定顯微鏡-使用光學式儀器檢測鉆石內結構


鉆石具有許多優(yōu)異性質。當鉆石內包含特定缺陷結構時,可穩(wěn)定的激 
發(fā)產(chǎn)生螢光, 因此受到重視, 成為新一代的發(fā)光材料。奈米鉆石 
(nanodiamond)是近十年來新興的材料。當鉆石晶體的大小縮至數(shù)十奈米時, 
其發(fā)光性質依然保持,且由于尺度縮小,可使其選擇性地連結至特定生物 
組織、細胞、或細胞內特定結構。奈米鉆石具有絕佳的光穩(wěn)定性及對生物 
無毒性等優(yōu)點,因此可以成為優(yōu)秀的螢光標定材料,做為生物標定、藥物 
傳遞與癌癥治療時的奈米引導標定等用途。 

H3缺陷結構(defect center)是天然鉆石中最常見的一種發(fā)光結構,其結 
構組成是由兩個氮(nitrogen)原子與一個空缺(vacancy)位置所結合而成,具 
有相當高的螢光效率。H3結構之螢光為500 – 600 nm范圍之寬廣綠光螢光, 
且具有相當窄之零聲子線(zero-phonon line),位于503 nm處。本研究中,使 
用平均粒徑約為75 nm之天然奈米鉆石,比較經(jīng)過高能He+粒子轟擊與未經(jīng) 
轟擊之樣品,藉由其螢光性質的差異,以了解高能粒子轟擊對其發(fā)光性質之影響。 

實驗結果顯示,經(jīng)高能量粒子轟擊后之樣品,產(chǎn)生大量空缺結構,因 
此螢光強度較高。但其中有超過50%以上的奈米鉆石包含N-V0或N-V-等其 
他含氮缺陷結構,而僅有約30%的奈米鉆石顆粒,純粹僅含H3缺陷結構。 
相對應的,未經(jīng)高能量粒子撞擊的樣品,所得的螢光發(fā)光強度較低,但近 
ii 
乎90%之奈米鉆石純粹僅含H3缺陷結構,因此其發(fā)光缺陷結構較為一致。 
螢光生命期(fluorescence lifetime)測量提供這些結構之發(fā)光效率之比較。兩 
種不同制程的奈米鉆石具有顯著的螢光生命期差異:未經(jīng)高能粒子轟擊之 
樣品,螢光生命期為23.8±7.3 ns;而經(jīng)高能粒子轟擊處理過的鉆石樣品,螢 
光生命期明顯地縮短至 3-15 ns之間,這顯示高能粒子轟擊過程產(chǎn)生淬熄 
(quench) H3螢光的結構,因而縮短了H3結構之螢光生命期。 
關鍵字:奈米鉆石、H3缺陷結構、螢光生命期

本文由出自上海光學儀器廠,轉載請注明