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測(cè)量鍍層厚度時(shí)應(yīng)怎樣合理選擇測(cè)量方法

信息分類:生命科學(xué)資訊    作者:MISS-SHENG發(fā)布 

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測(cè)量鍍層厚度時(shí)應(yīng)怎樣合理選擇測(cè)量方法

      一般情況可根據(jù)產(chǎn)品電鍍加工技術(shù)文件
以及圖紙規(guī)定的方法來進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量。
如果技術(shù)文件或是圖紙中并沒有標(biāo)明測(cè)厚方
法時(shí),就可以按照基體以及鍍層的種類、性
質(zhì)、厚度大小,還有鍍件幾何形狀等方面來
進(jìn)行選擇。在測(cè)量精度允許的范圍內(nèi),可以
盡可能選用非破壞性測(cè)厚法來進(jìn)行。要是條
件不允許或并不能采用非破壞性測(cè)厚法時(shí),
就可選擇合適的破壞性測(cè)厚法來進(jìn)行鍍層的
測(cè)量。
本文由出自上海光學(xué)儀器廠,轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明
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