表面閃突起與切面的關(guān)系
通常情況下我們?cè)谑褂?a href="http://m.xinmaotiandiyuan.com/top_pgxwj.html" title="偏光顯微鏡" target="_blank" class="sitelink">偏光顯微鏡對(duì)晶體表面樣品標(biāo)本進(jìn)
行顯微檢測(cè)研究分析觀察的晶體表面閃突起與切面關(guān)系,
則需要在同一晶體物質(zhì)表面內(nèi)才行。
如果兩個(gè)不同的晶體所檢測(cè)觀察出的垂直光軸的切面與晶
體表面閃突起是不相同的。
因此在同一晶體表面閃突起與切面進(jìn)行顯微觀察時(shí),光線
能夠通過(guò)同一面上時(shí)垂直光軸切面上的閃突起是不顯示的
,而對(duì)于平行光軸或是說(shuō)平行光軸切面上的閃突起是明顯
的。
因此對(duì)于晶體表面的檢測(cè),則就需要通過(guò)晶體表面閃突起
與切面的關(guān)系進(jìn)行的,而對(duì)于斜交光軸切面上的閃突起是
在兩個(gè)面之間。