在這里我們所說(shuō)的雙光子以及聚焦
顯微鏡進(jìn)行對(duì)樣品
標(biāo)本表面進(jìn)行一個(gè)三維光學(xué)高度信息的三維光學(xué)微加
工時(shí)所形成一個(gè)信息存儲(chǔ)。
同時(shí)還有就是雙光子與微型電子
元件以及光學(xué)電子器
件的研究方法是非常重要的。
因此我們可以說(shuō)通常情況下我們使用雙光子進(jìn)行對(duì)樣
品標(biāo)本表面進(jìn)行三維光學(xué)信息的加工則會(huì)成為三維加
工光學(xué)數(shù)據(jù)的一個(gè)重要方法。
這樣我們就可以通常一系列的研究得到一個(gè)基本的方
向,這樣我們就可以通過(guò)一系列的激光掃描對(duì)樣品標(biāo)
本表面進(jìn)行雙光子檢測(cè)。