晶體試樣
斷口上產(chǎn)物情況是很復(fù)雜的,如有的很疏松、有的極薄、
有的易揮發(fā)、有的還容易水解等。加上斷口粗糙不平,給斷口
產(chǎn)物分析帶來(lái)極大的麻煩。
斷口產(chǎn)物的分析可分兩大類:成分的確定及產(chǎn)物相結(jié)構(gòu)
的確定,前者通常應(yīng)用化學(xué)分析、光譜、帶有能譜的掃描電子
顯微鏡、電子探針、離子探針、俄歇能譜儀等,而產(chǎn)物相結(jié)構(gòu)的
分析則常應(yīng)用x光衍射儀、德拜粉末相機(jī)X光衍射、透射式
電子顯微鏡選區(qū)衍射、高分辨率衍射等。
斷口分析基本上可分為二大類,即光學(xué)儀器分析及電子
儀器分析。光學(xué)儀器常用的有放大鏡、立體顯微鏡、光學(xué)顯微
鏡、實(shí)物照相機(jī)。電子儀器有X光衍射儀、電子顯微鏡、掃描
電子顯微鏡、電子探針、俄歇電子能譜儀、X射線電子譜儀、低
能電子衍射儀、中能電子衍射儀、反射式高能電子衍射儀、場(chǎng)
離子顯微鏡、離子探針等。
進(jìn)行微區(qū)成分分析。目前最常用的是透射電子顯
微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針。電子顯微鏡主要是應(yīng)用
透射電子進(jìn)行成象及形態(tài)和結(jié)構(gòu)的研究,
示。對(duì)于晶體試樣,如金屬薄膜等,主要成象是由于試樣晶體
的選擇衍射(滿足布拉格衍射條件)而產(chǎn)生襯度(反差)差異,
可以稱為衍襯成象。