微波探傷法以微波的穿透性能為基礎(chǔ),主要用于發(fā)現(xiàn)非金
屬制品表面上的缺陷。由于微波的穿透能力很小,因而用于金
屬制品檢驗(yàn)受到限制。但可用這種方法在制造過程中測定鋼板
和金屬絲的缺陷,以及測量它們的厚度或直徑,和電介質(zhì)鍍層
的厚度等。微波由以連續(xù)或脈沖狀態(tài)工作的發(fā)生器出來,經(jīng)過
喇叭天線穿透制品,經(jīng)信號放大器放大后,由接收裝置記錄下
來。
紅外線探傷法是利用紅外線(熱線)來發(fā)現(xiàn)可見光看不見
的雜質(zhì)�?蓮氖軝z產(chǎn)品的穿透輻射、反射輻射或自輻射中獲得
缺陷的紅外圖象。一般用這種方法來檢驗(yàn)工作過程中發(fā)熱的產(chǎn)
品,有缺陷的部分改變熱流。紅外輻射流穿過產(chǎn)品,并由熱敏
接收器記錄其分布情況。材料的不均勻性也可以用
紫外線探傷
法檢驗(yàn)。
紅外線內(nèi)視探傷法依照字面意思就是熱內(nèi)視,可看到無線
電電子學(xué)所需的重要材料,如半導(dǎo)體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。半導(dǎo)體中即
使存在極少量的雜質(zhì),也會大大降低它的性能。內(nèi)視儀可以精
確地檢驗(yàn)半導(dǎo)體的單晶體,發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)的破壞情況和細(xì)微裂紋。
磁力探傷法以研究鐵磁材料制品缺陷處產(chǎn)生的磁場畸變現(xiàn)
象為基礎(chǔ)。指示劑可用磁粉(四氧化三鐵)或粒度為5 一。10
微米的磁懸液(用油作分散媒劑)。當(dāng)被檢物磁化時(shí);磁粉便
沉降于有缺陷的部位(磁粉法)。用磁粉法能發(fā)現(xiàn)裂紋或其他
深達(dá)2 毫米的缺陷。
磁性探傷法的靈敏度取決于材料的磁特性、所采用的指示
劑和被檢物的磁化狀態(tài)等因素。。
可用磁帶記錄漏磁場,把磁帶效在磁化產(chǎn)品的受檢部位上
(磁強(qiáng)記錄法)。主要用這種方法檢驗(yàn)10—12毫米以內(nèi)的導(dǎo)管
的焊縫,和發(fā)現(xiàn)其細(xì)裂紋及漏焊缺陷。