用光學(xué)顯微鏡分辨顯微結(jié)構(gòu)的尺寸,往往是可能的.由于金
屬是不透明的,必須把它們放在豎直的顯微鏡下靠反射光進(jìn)行觀
察.為此,樣品須先磨平,然后進(jìn)行(機(jī)械、化學(xué)或電解)拋光,使之
成為光學(xué)平面.拋光面在顯微鏡下一般應(yīng)呈現(xiàn)光滑,而且顏色一
致.為了區(qū)分各種顯微結(jié)構(gòu)的組成部分,采用各種各樣的技術(shù)以
產(chǎn)生(或加強(qiáng))各組成的襯比.產(chǎn)生樣品表面特殊變化的一個(gè)方法
是蝕刻.除了憑經(jīng)驗(yàn)的化學(xué)蝕刻以外,有幾種可以重復(fù)的物理方
中,各組成物由于移去的材料的量不同而顯示出差別
則說明利用表面氣相淀積的薄膜界面對(duì)光的反射能力不同而顯示
出差別.晶體學(xué)平面顯示出來.在豎直反射光的顯微鏡下,取向的晶粒向
不同的方向反射光,因而表現(xiàn)出不同的亮度.如果反射的點(diǎn)陣平
面是已知的,便可定出樣品中晶粒(即各晶體)的取向.所謂“取
向”系指晶體點(diǎn)陣與樣品外形結(jié)構(gòu)(表面,長軸)的相對(duì)位置.