相襯
顯微鏡是另一種在金相學(xué)上應(yīng)用的新技術(shù)
相襯顯微鏡是另一種在金相學(xué)上應(yīng)用的新技術(shù)。這使有些特
殊表面現(xiàn)象的觀察甚至在沒有顏色或反射性襯比的情況下成為可
能。例如,從一金相樣品的微小凹陷部分所反射出來的光,相對
于從其四周基體_上所反射出來的光,在周相上將延遲光波一個(gè)波
長的幾分之幾,這一區(qū)別在普通顯微鏡物鏡所收集的光在最后所
形成的像是分不出有所襯比來的,而在相襯顯微鏡,周相的徽小
差別變成了亮度的差別,這是人眼所能覺察的。
如配制適當(dāng),則各向異性金屬的拋光樣品將對偏振光起“反
應(yīng)”,在正交偏振片下將觀察到一種晶拉襯比效應(yīng),這是說,晶
粒的亮度將隨晶體取向而變遷。但如樣品屬立方晶系,則在正交
偏振片下將只出現(xiàn)一片均勻的黑暗,除非由于侵蝕的結(jié)果而產(chǎn)生
了人工各向異性,就是說,由于侵蝕的結(jié)果而產(chǎn)生了各向異性的
表面薄膜或倫哪清晰的侵蝕斑。一個(gè)侵蝕斑將對斜入射的光線發(fā)
生反射,反射光將是橢回偏振的。但是.這樣一支光線,檢偏振
器在任何位置也不可能完全消光,它將產(chǎn)生一背底照明,因而掩
蓋了晶粒襯比效應(yīng)。