鑒定巖石成因顯微構(gòu)造分析圖像
顯微鏡-成像裝置
滑移標(biāo)志發(fā)生過滑移的礦物往往殘留有粗滑移線,由位錯(cuò)壁構(gòu)成的亞晶粒,
位錯(cuò)壁扭折,還出現(xiàn)不同程度的波形消光,礦物的形態(tài)與結(jié)晶習(xí)性不符合的變形
狀態(tài),例如壓扁、拉長(zhǎng)狀等。
現(xiàn)在X 一射線組構(gòu)測(cè)定大大發(fā)展起來,但共測(cè)角儀不能識(shí)別上述顯微構(gòu)造現(xiàn)
象。因此.X一射線測(cè)角儀雖然能測(cè)得滿意的巖組圖,但卻不能鑒定解釋巖組成因
的顯微構(gòu)造證據(jù),這樣單從巖組圖上不可能得出適當(dāng)?shù)膭?dòng)力學(xué)解釋。
光學(xué)顯微鏡
利用費(fèi)氏臺(tái)測(cè)巖組圖時(shí),也很少進(jìn)行顯微構(gòu)造分析,幾乎不注意顯微鏡所見的破
碎標(biāo)志、晶芽生長(zhǎng)標(biāo)志和滑移標(biāo)志等等。為了獲得滿意的動(dòng)力學(xué)解釋,在測(cè)繪巖
組圖的同時(shí),應(yīng)該輔助測(cè)定各種假說所依據(jù)的顯微構(gòu)造標(biāo)志,從而對(duì)假說加以選
取.
滑移假說比其他假說提出的晚,看來比較有生命力。因此,應(yīng)該側(cè)重滑移標(biāo)
志的識(shí)別,鑒定滑移面和滑移方向。
變形程度對(duì)礦物取向的優(yōu)選影響很大,變形程度不大時(shí),不足以形成圖象清
晰的巖組圖。
所以低級(jí)變形的巖石不利于巖組分析,高度變形的巖石可以作巖組分析,但
應(yīng)該配合顯微構(gòu)造分析。沒有顯微構(gòu)造分析,只憑巖組圖,只從巖組圖的對(duì)稱類
型上作動(dòng)力學(xué)分析,看來是造成巖組分析多解性的重要原因。