磁力顯微鏡
磁力顯微鏡(MFM)是繼掃描隧道顯微鏡和掃描力顯微鏡之后的第三代掃
描探測器,用于研究磁性材料上的邊緣場.它的原理是磁性樣品與附著在靈敏懸
臂上磁傳感器間的相互靜磁作用。
在非接觸式模式中的掃描范圍是幾十到幾百納米帶有疇結(jié)構(gòu)的磁性樣品在表面
產(chǎn)生復(fù)雜的分散場。
磁力顯微鏡的目的是當(dāng)接近樣品表面在盡可能接近樣品表面的情況下,
微鏡傳撼器掃描時出現(xiàn)干涉。磁力顯微鏡傳感器可以通過懸臂的偏轉(zhuǎn)
或水平振動進(jìn)行監(jiān)視,并且能測量出共振頻率。
磁力顯微鏡操作的方式使外形和磁力逐行同時獲得,并且提供給用戶一種研
究表面形態(tài)與磁域結(jié)構(gòu)間的相互作用的方法。其效果的控制依靠探針頂端與表面
間的距離,因?yàn)樵娱g的磁力比范德瓦爾斯力更能使探針與樣品分離。
如果探針接近表面,在標(biāo)準(zhǔn)非接觸式原子力顯微鏡操作的區(qū)域中,圖像將會是
主要的外形圖。
當(dāng)探針與樣品間的距離增加時,磁力影響變得顯而易見.在探針不同的高度
采集一系列圖像.是從外形圖的結(jié)果中分離出磁性的一種方法。
磁力顯微鏡提供了高靈敏度和50nm或更好一些的橫向分辨率。這些功能主要
通過鐵磁薄膜式傳感器實(shí)現(xiàn)。
這些傳感器的準(zhǔn)備不但用于確定磁力顯微鏡的分辨率和靈敏度,也提
供了在納米尺度內(nèi)研究磁特性的一種方法。