金相顯微鏡-顯微鏡

本站搜索

測量計數(shù)光學(xué)顯微鏡,顆粒物中的微量分析技術(shù)

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

目前已應(yīng)用到顆粒物中的微量分析技術(shù)包括:用于顆粒物微觀形貌研究分析

的電子顯微鏡技術(shù)、用于微區(qū)成分分析的微探針技術(shù)和飛行時間質(zhì)譜技術(shù)等。

其中電子顯微鏡技術(shù)包括掃描電子顯微鏡技術(shù)(SEM)、透射電子顯微鏡技術(shù)

(TEM)和原子力顯微鏡((atomic force microscope, AFM);

微探針技術(shù)包括掃描質(zhì)子微探針分析(SPM)、質(zhì)子微探針(PM)、掃描質(zhì)子微探針

(SPM)、核子微探針(NM)、掃描核子微探針(SNM)等;

飛行時間質(zhì)譜除了前面介紹的飛行時間質(zhì)譜(TOF-MS)，

還包括飛行時間二次離子質(zhì)譜(TOF- SIMS)等。

本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明

http://m.xinmaotiandiyuan.com @2007　-上海光學(xué)儀器廠官方網(wǎng)站

郵箱：[email protected]　 TEL: 010-64034191 84021761(北京) 021-55228110 55228660(上海)

QQ-- 售前:1239256227 1010062860 824593962 346018241 380215122 售后:458112906 --　

合作站點