電子
顯微鏡技術(shù)是研究微細結(jié)構(gòu)的必要儀器
電子顯微鏡技術(shù)是研究微細結(jié)構(gòu)的重要手段,在納米材料表征
上發(fā)揮著重要的作用。
常用的電子顯微技術(shù)包括
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM)和透射電子顯微鏡
(transmission electron microscope, TEM)
SEM的成像原理如下:當(dāng)電子束在樣品表面掃描時會激發(fā)出二次電子,
用探測器收染產(chǎn)生的二次電子。則可獲得樣品表面結(jié)構(gòu)信息。石墨烯的厚度
為原子量級,表面起伏多為納米最級。另外,石墨烯發(fā)射二次電子的能力極低.
因此,在通常情況下,石墨烯在SEM下是很難成像的。但由于石墨烯質(zhì)軟,
在基底上沉積后會形成大量的褶皺。這些招皺在SEM下可被清晰分辨,
從而將石墨烯的輪廓“勾勒”出來。
因此,SEM常被用來表征石墨烯大面積薄膜,效率極高。