穿透式電子
顯微鏡的應(yīng)用簡介,金屬光譜分析
現(xiàn)階段研究熒光粉熒光于高溫環(huán)境下之放光特性,主要以熱淬熄
( 從低溫至高溫之放光特性) 為主,該研究除了探討熒光粉熱淬熄現(xiàn)象外,
也研究鮮少文獻(xiàn)討論之熱衰竭( 從高溫至低溫之放光特性) 現(xiàn)象。
利用高解析度穿透式電子顯微鏡,觀察300oC 熱處理后之
M2-xSi5N8:Eux 熒光粉的表面形態(tài),其產(chǎn)生非晶化(amorphous) 之表層,
并藉由變溫X 光繞射與X 光吸收近邊緣結(jié)構(gòu)光譜之結(jié)果,提出可能的結(jié)構(gòu)變化機(jī)制,
并解釋Sr 與Ba 系列樣品隨Eu 添加量多寡之熱淬熄與熱衰竭現(xiàn)象。
此研究使用 BL01C2 光束線