反射鏡、光圈、UV光源、
偏光顯微鏡與面板之制作及量測(cè)
一、目的:
(1) 學(xué)習(xí) surface-stabilized cholesteric texture, SSCT樣品之制作。
(2) 學(xué)習(xí)兩種模式之SSCT樣品于電壓控制下穿透度與響應(yīng)時(shí)間之量測(cè),藉以瞭解液晶于聚合物轉(zhuǎn)向之原理與光電特性。
二、使用儀器設(shè)備及材料:
儀器設(shè)備: 電壓量測(cè)系統(tǒng)(數(shù)位電表、示波器、任意函數(shù)產(chǎn)生器、GPIB介面控制卡、PC、光偵測(cè)器、電壓放大器)、
偏振片、氦氖雷射、光衰減片(NDF)、反射鏡、光圈、UV光源、
偏光顯微鏡、配向機(jī)、烤箱、ITO玻璃清潔設(shè)備、玻璃切割機(jī)、藥品振盪器、微量天平、旋轉(zhuǎn)涂佈機(jī)。
使用材料: 液晶E7、chiral dopant (CB15)。
三、實(shí)驗(yàn)步驟:
(一) SSCT樣品之制作:
(1) 液晶混合材料的配制:利用微量電子秤,精密量取比例為63% : 37%之E7與CB15,倒入小樣品瓶中備用。
(2) SSCT 面板的制作:制作SSCT樣品,需事先作垂直配向處理。并依照實(shí)驗(yàn)一之步驟可得到SSCT之面板。
(二) SSCT樣品之特性量測(cè)
(1)光電特性量測(cè) (T-V curve及response time):
SSCT樣品之光電特性量測(cè)方法與實(shí)驗(yàn)三之方法相同,其量測(cè)步驟請(qǐng)參考實(shí)驗(yàn)三;唯外加之電壓為脈衝方波。
(2)光譜特性量測(cè):
1.架設(shè)光譜儀如圖(3);注意光源、樣本架、光譜儀、偏光鏡須至于同一水平直線上。
2.使用軟體OOIBase32以及CCD光譜儀來(lái)量測(cè)光穿透量。
3.之后數(shù)據(jù)以軟體KGRAPH作圖,畫(huà)出穿透率或反射率的圖形。