顯微檢測手段與XRD
一般情況下對于不同的納米材料的檢測手段來說則不相
同,除了顯微檢測手段與XRD外,還有不同的方法進(jìn)行
確定出納米材料的能量色散與X射線的光譜。
而對于使用原子力
顯微鏡來說,進(jìn)行顯微檢測方法則就
是觀察樣品標(biāo)本表面的形貌特征一個(gè)原子力。
而同樣的對于高分辨率的掃描電子顯微鏡來說,使用顯
微檢測手段與XRD可以對其進(jìn)行高分辨的進(jìn)行檢測出材
料的結(jié)構(gòu)特征。
因此對于上面所說的顯微檢測手段與XRD外,還可以使
用其他的方法進(jìn)行,在這里我們就不一一述說了。