顯微觀察時(shí)的x射線衍射
x射線衍射通常就是我們所說的XRD,而對于這種x射線衍
射則主是一種可以通過對材料的表面特征進(jìn)行x射線衍射
的一種方法。
因此通常情況下顯微觀察時(shí)
顯微鏡中的x射線衍射則是一
種可以用來分析衍射圖譜的現(xiàn)象,在這種情況下獲得材
料的成分與內(nèi)部結(jié)構(gòu)原子等研究手段。
對于這種x射線衍射手段還可以用來對材料內(nèi)部原子分子
的結(jié)構(gòu)或是結(jié)構(gòu)形態(tài)進(jìn)行信息化的研究。
而對于顯微鏡的x射線衍射則在近代則成為了一個(gè)用于研
究晶體物結(jié)構(gòu)或是用來對某些物質(zhì)中的非晶體物質(zhì)微觀
結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢測的一種有效方法。