掃描電子顯微鏡的電子槍和聚光鏡以及透射電子顯微鏡
的使用方式大致上是相同的,不同在于對電子束的細(xì)粗
是不相同的。
而對于掃描電子顯微鏡則需要在聚光鏡下增加一個(gè)物鏡
與消像器,同時(shí)還需要在物鏡內(nèi)增加兩組互相垂直的掃
描線圈。
同時(shí)對于掃描電子顯微鏡來說,它還可以對物體樣品標(biāo)
本載物如進(jìn)行移動(dòng),轉(zhuǎn)動(dòng)或是傾斜處理樣品臺進(jìn)行顯微
分析檢測觀察。
而對于場發(fā)射掃描電子顯微鏡則就是一種比較簡單和掃
描電子顯微鏡,同時(shí)對于樣品標(biāo)本的顯微觀察則需要根
據(jù)電場強(qiáng)弱進(jìn)行導(dǎo)致場發(fā)射所散發(fā)出來的電子進(jìn)行顯微
觀察。