透射電子顯微鏡不但可對(duì)納米顆粒材料形貌進(jìn)行觀測(cè),
顆粒度的
測(cè)量成分分析還可以進(jìn)行原子尺度元素分析分
析。
以獲得高分辨像,這樣就可以直接用于解釋,所在在微
觀結(jié)構(gòu)確定方面比傳統(tǒng)的高分辨像更加具有優(yōu)勢(shì)。
而透射電子顯微鏡具有相對(duì)于XRD衍射來(lái)說(shuō),則電子衍
射的散射能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)的大于X射線的散射能力,則這為微
小的晶體結(jié)構(gòu)的分析提供了有力的研究工具。
透射電子顯微鏡可以同時(shí)獲得研究對(duì)像外形貌特征,原
子排列信息與成分信息以及晶體結(jié)構(gòu)學(xué)信息最有效的方
法。