樣品標(biāo)本像變更加模糊如何進(jìn)行處理
隨著樣品標(biāo)本的厚度的增加,像變得更加模糊,而透射
掃描電子
顯微鏡中電子穿透樣品標(biāo)本后不再需要透射聚
焦了。
這樣的透射掃描電子顯微可以觀察到比較厚的樣品標(biāo)本
,并非常好的一個(gè)反差,則比如說普通的透射電鏡只能
夠觀察到零點(diǎn)二的微米左右的以下的鋁片。
而對(duì)于一百千伏的透射掃描電子顯微鏡則能夠觀察到近
二微米厚的鋁片,這種集器則在開始使用來就引起了人
們極大的注意。
同時(shí)還將它在許多方面取代普通的透射電子顯微鏡,而
在電子顯微分析方面利用電子計(jì)算機(jī),可以從二維像是
得到一個(gè)三維的結(jié)構(gòu)。