樣品微觀結構光譜分析技術的優(yōu)點有哪些
接觸取樣
以一種與光譜分析所用輻射源分開的方式,同樣可以利用電火花
或電弧進行取樣,如果一個大的物體不能運進光譜實驗室,而在一
占為上的分光鏡試驗又不夠時必須全面考慮,試驗物質(zhì)可以轉移到
與陰極有關的一個適合的輔助電極上,而利用分析輻射源從這里一
次蒸發(fā),可利用電弧或火花源,為了檢驗鋼和鐵,例如可采用銅作
輔助電極,
鋁合金可采用鐵,低壓火花取樣器的輔助電極通常利用一振動器的
移動,以引起間斷的接觸,因為當陰極脫開時材料從接觸點的轉換
最強烈,如果執(zhí)行適當時,接觸取樣不增加分析誤差,而一個更好
的優(yōu)點是原來樣品微觀結構的影響和某些干擾元素的影響在這方法
中可以減少。