光入射至一般的非雙折射材料的介質(zhì)表面,計(jì)量
顯微鏡
反射時(shí)介質(zhì)引起的光偏振
在許多偏振儀器中均采用光在介質(zhì)上反射時(shí)產(chǎn)生偏振的
現(xiàn)象.
光入射至一般的非雙折射材料的介質(zhì)表面時(shí),反射光與
折射光均部分偏振.在反射光中,電矢量變化的主要方向與
入射面垂直,在折射光中則與入射面平行
在許多偏振儀器中都要研究通過被研究對(duì)象的偏振光束
干涉時(shí)產(chǎn)生的干涉圖樣.
這類儀器中的光偏振是在一種稱為起偏振鏡的偏振裝置
中實(shí)現(xiàn)的.被研究對(duì)象輸出的偏振特性用檢偏器進(jìn)行分析.
雙折射晶體作為被研究對(duì)象,晶體光軸與圖面平行而與入射
光束垂直).
可以采用能給出線偏振光的任何偏振裝置(偏振棱鏡與
雙折射棱鏡、反射介電容面的偏光片)作為起偏振鏡與檢偏
器.
橢圓偏振光直接對(duì)準(zhǔn)檢
偏器,則將因存在許多困難而難子進(jìn)行光的研究.因?yàn)橥ㄟ^
檢偏器的僅是從被研究晶體射出的部分光能,這部分光能與
檢偏器透過的振動(dòng)分量相對(duì)應(yīng),所以,在與晶體主平面垂直
的平面上旋轉(zhuǎn)檢偏器時(shí),可觀察到的則將僅僅是場(chǎng)的局部發(fā)
暗或透明.在對(duì)部分偏振光進(jìn)行研究時(shí)觀察到的也是同一現(xiàn)
象(檢偏器的偏振面與橢圓長(zhǎng)軸重合時(shí),強(qiáng)度最大,而與短
軸重合時(shí),則強(qiáng)度最小).在特殊情況下,當(dāng)a=b時(shí),旋
轉(zhuǎn)檢鏑器一般不會(huì)改變透射光的強(qiáng)度,如同分析自然光時(shí)一
樣,看不到干涉現(xiàn)象.
為了創(chuàng)造分析的條件,必須預(yù)先將橢圓或圓偏振光轉(zhuǎn)換
為平面偏振光