一般說來,場輸入只能研究為數(shù)不多的特定系統(tǒng),但對這些系
統(tǒng)它確實(shí)能提供重要信息。
在表面分析這個范疇內(nèi)還應(yīng)提到一種方法,這就是當(dāng)氣體吸附
或解吸時測量薄膜電導(dǎo)的變化,在這里,前提條件是吸附的氣體
要同表面上的導(dǎo)電電子相互作用,因而改變有效載流子的數(shù)目,
造成薄膜電阻或電導(dǎo)的變化,為了使這種作用更為顯著,顯然膜
必須很薄,厚度絕不能超過幾百埃,而且超薄越好,可以看出,
這種方法非常簡單,唯一的困難就是得到一個可控制的,了解得
相當(dāng)清楚的薄膜,厚度最好小于100-200埃,雖然從零部件,造
價等來看,它是最簡單的方法之一,但上述困難影響很大,使這
種方法的利用頗受限制,另外它與前面談到的測量由于吸附單層
造成的磁飽和變化方法一樣,有許多相同的基本問題,這種方法
還能同其它方法聯(lián)用,并在某些系統(tǒng)中作了成功的嘗試。
雖然斷裂在地質(zhì)理論和實(shí)際工作中都很重要,因?yàn)閿嗔褜ΦV床
普查,勘探和開發(fā)有很大的影響,然而,在大構(gòu)造學(xué)中還末擬定
出足夠嚴(yán)密的與斷裂有關(guān)的概念和術(shù)語,在確定蘇聯(lián)大部分領(lǐng)土
內(nèi)大型建議工作的價值時,要評價在震危險性,這一工作在很大
程度上都與正確了解斷裂的現(xiàn)代發(fā)展有關(guān)。