測量的顆粒體中存在細顆粒,測得懸浮液的顆粒濃度
信息分類：生命科學資訊 作者:YIYI發(fā)布
測量的顆粒體中存在細顆粒,測得懸浮液的顆粒濃度
測量的顆粒體中存在細顆粒時，重力沉降時間就比較長；由于儀
表的穩(wěn)定性、顆粒的布朗運動，測量誤差也就比較大。因此，為
了縮短測量時間和減少誤差，對細顆粒測量應該采用離心沉降技
術。
粒度已同可見光波長相當，而發(fā)生十分復雜的散射現(xiàn)象，其消光
系數隨粒度變化很大。為此采用X光作為入射光源，這樣既
避免了細顆粒組分的散射效應，又可直接測得懸浮液的顆粒濃
度，而不像用可見光那樣所直接測得的僅是顆粒的有效投影面
積。
X光比濁儀配備調節(jié)沉降槽高度的機構，以便測量過程中不
斷地改變沉降高度。對于細顆粒，測量幾乎是在“貼近"懸浮液
—的表面層進行，這樣即使在沒有離心機附件的情況下，也可以縮
短細顆粒的測量時間。
沉降槽中再倒入經分散好的懸浮液，蓋上蓋板，打開X光機
韻窗口，即開始顆粒沉降。
在測試過程中，逐步調節(jié)沉降高度，以便縮短細顆粒測量時
間。轱個誘討強唐隨高彥和時聞蠻化的沉降曲線
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