超微結(jié)構(gòu)巖石微細(xì)結(jié)構(gòu)分析圖像
顯微鏡
微細(xì)結(jié)構(gòu)
運(yùn)用透射電鏡和高分辨電子顯微術(shù),研究在應(yīng)力作用下
晶體超微結(jié)構(gòu)、調(diào)制結(jié)構(gòu)、堆垛缺陷和層錯(cuò),并與能譜、
電子探針分析相結(jié)合,研究超微觀形跡與相變的關(guān)系。
缺陷化學(xué)
運(yùn)用晶體場理論、分子軌道理論、能量理論郵化學(xué)對(duì)礦物
變形機(jī)制的制約作用。
應(yīng)力礦物年代學(xué)
根據(jù)應(yīng)力礦物同位素年齡的測定,厘定相應(yīng)的地質(zhì)體形
變、相變的地質(zhì)時(shí)期。