解決子礦物的鑒定的簡捷各種類型的電鏡技術(shù)
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
解決子礦物的鑒定的簡捷各種類型的電鏡技術(shù)
近年來，人們采用了各種類型的電鏡技術(shù)來研究包裹
體，但仍需尋找一種解決子礦物的鑒定的簡捷辦法，對于
研究通常出露在炎成巖礦物光片上的玻璃或包裹體在玻璃
內(nèi)的子礦物，電子顯微探針分析是令人滿意的，但這種技
術(shù)對于稀散分布在富氣液包裹體中的礦物卻不適用。對于
這樣的包裹體，子晶往往在拋光時(shí)被破壞和（或）溶蝕，
而且打開了的包裹體通常被磨料和礦物礦碎屑所污染。
使用所含具有分析意義的元素非常低的研磨劑，他們
對局部暴露在磨光的主晶表面的子礦物成功地進(jìn)行了電子
探針分析，采用電子顯微探針分析和電子衍射方法分析機(jī)
械打開包裹體所釋放的流體所形成的沉淀物也取得了某些
成功，在某種情況下，電子顯微探針分析方法可與透射電
子顯微鏡分析聯(lián)用通過復(fù)型法鑒定從包裹體中選取的子礦
物。
本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明
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