電子探針分析研究的主要缺點(diǎn)是難于看清探針?biāo)治?/div>
的是什么相,而且很難確定所鑒定的固體物質(zhì)是否確定是
子晶而不是流體蒸氣或包裹體污染的產(chǎn)物,多數(shù)顯微探針
的
光學(xué)系統(tǒng)都不太完善,而且三維空間成相能力也不及掃
描電鏡,甚至礦相顯微鏡下,如果不用浸油也很難看清打
開的氣液包裹體中存在的子礦物。
在包裹體研究方面還應(yīng)用了透射電子顯微鏡技術(shù),但
不是作成分分析,人們把這種就去應(yīng)用于礦物表面的復(fù)膜,
或者應(yīng)用于離子薄化所產(chǎn)生的非常薄的薄膜研究,這種技
術(shù)對于非常小的包裹體或礦物以及材料中的其它缺陷作形
態(tài)研究是最有用的。
鑒于儀器對微小物體的成像能力,應(yīng)用掃描電鏡研究
氣液包裹體的工作少得出奇,目前的研究都集中在包裹體
室或通過復(fù)型法出露于包裹體的子礦物的形態(tài)研究,要充
分發(fā)揮掃描電鏡在包裹體研究方面的能力還需增加一臺能
量分散設(shè)備,這樣裝備后,掃描電鏡集中了其通常具有的
成像能力和電子顯微探針分析的某些優(yōu)點(diǎn),就成了就地研
究打開氣液包裹體中子礦物的一種較有效的手段。