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應(yīng)用于測量合金加工截面顆粒計量顯微鏡

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

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應(yīng)用于測量合金加工截面顆粒計量顯微鏡

測線可以布置在特定方向上；如果的必
在的話，可以在所選擇的域內(nèi)測量其中所有顆粒的方位
，既然這樣，資料本身就能滿足顯著性檢驗和其它標(biāo)準(zhǔn)
統(tǒng)計程序的檢驗。

  大型域的均勻性是隨其總范圍和取樣比較尺而變化的
。一個包含許多大型褶皺的大型域，只要取樣比較尺同
樣很大，那么，這個域就其大型組構(gòu)要素（例如主要褶
皺的軸平面和褶皺軸）來說是可以是均勻的。但是，一
個較小的分域，例如包含一個主要褶皺的那種域，就其
褶皺的S——面來說卻是不均勻的，盡管它仍可就小褶
皺和線理一類小型構(gòu)造來說具均勻性。小型域則不然，
這個大型巖體的各個小型域可能就其大部分小型構(gòu)造來
就是不均勻的。

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