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檢查在試件高溫熱加工金相分析顯微鏡

信息分類:生命科學資訊    作者:YIYI發(fā)布 

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檢查在試件高溫熱加工金相分析顯微鏡

目的

    加熱的目的是檢查在試件中是否有因暴露在高溫下而發(fā)
生變化的情況。    

偏壓的選擇方法因試件不同而異,如果將接合部的反偏
壓選為其額定破壞電壓的約75%,這對查明污染的氧化物帶
來的問題最為合適。

    在將試件開封之后,再次進行加熱(在附加偏壓或不加
偏壓的狀態(tài)下)。其程序可仿照上述程度,但是,要注意不要
使外部的污染進入試件內(nèi)部。用于各種用途的恒溫箱的內(nèi)部,
如果不進行定期清掃特別容易受污染。

    利用真空恒溫箱的真空加熱能有效地去除污染。特別是
滲透在試件局部(尤其是試件內(nèi)部)的污染,.只是加熱到高
溫是清除不掉的,而利用真空則可除掉。

本文由出自上海光學儀器廠,轉(zhuǎn)載請注明