測量晶粒大小的重要應用可以鉻礦為例,其圖形在原點處有
獨特特征。希臘礦石顯示出一個粗的晶體結構,而某些從其他地
方來的礦石則顯示出差不多是無定形的圖形。石英巖的X射
線測定通常是肯定了顯微鏡的觀察,但是它可能另外顯示出某些
較大的石英晶體有嚴重崎變或者實際上是在略有差別的取向上排
列著大量的小晶體。這些觀察解釋了為什么看起來是粗晶體的石
英巖卻顯示相當高的轉化速率。
差不多只出現(xiàn)在爐渣中。用x射線沿著左上方
光學顯微鏡圖象中
標出的白線對鐵進行掃描,顯示了鐵在爐渣中和邊界層內的濃
度,也顯示出鐵含量在含有未溶晶體的鎂顆粒內的變化。對鈣的
掃描表明它在邊界層只有少量的存在,(雖然這在x射線圖象中
很難見到)。在右側圖片的掃描峰值與鎂顆粒的位置有相對應的
關系。鎂的掃描是很令人感興趣的,它不僅揭示了在一個顆粒內
部鎂成分的變化,而且也表明鎂擴散進入了邊界層,同鐵和鈣形
成了一種化合物。在鎂砂顆粒中也發(fā)現(xiàn)了鉻,在邊界層中很少。
而硅只是在爐渣中出現(xiàn)。在陶瓷方面應用EPMA還能舉出其他
的例子,但是用EPMA研究特殊材料,其效果是最好的。