各種單晶光纖光學(xué)器件對(duì)晶纖材料提出不同的要求,其中吸收
光譜和光學(xué)均勻性是晶纖材料的一個(gè)重要的光學(xué)特性,它們直接影
響器件的質(zhì)量.如角作微型單晶光纖激光器的晶纖材料,不但要求在
泵浦光源波長(zhǎng)范圍內(nèi)有寬的吸收帶,使泵浦光的光能量得到充分利
用,而且在其發(fā)射波長(zhǎng)處透明,使其在激光波長(zhǎng)處無吸收。同時(shí)要求
直接影響激光器效率和閥值的散射損耗愈小愈好,因此,精確地
測(cè)量光損耗,不僅便于選擇高質(zhì)量的晶纖材料,而且還可用于研究損耗與
晶纖生長(zhǎng)條件之間的關(guān)系,以便確定制備晶纖材料的最佳生長(zhǎng)條件。
X射線能譜儀能測(cè)量各種元素產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)
度.根據(jù)波長(zhǎng)確定被檢測(cè)的元素(定性分析),由相應(yīng)譜線高度經(jīng)過校
正計(jì)算,可確定所含元素的相對(duì)含量(定量分析).能譜儀的最大優(yōu)點(diǎn)
是:在觀察試樣顯微圖象的同時(shí),能快速地對(duì)樣品的微區(qū)中所含元素
進(jìn)行定性和定量的分析.
樣品制備。在進(jìn)行觀察前,先將樣品用酒精擦拭,由于晶纖為
絕緣體,為了消除試樣帶電現(xiàn)象,將試樣表面蒸鍍一屬金,鍍金厚度
約為200A。然后用導(dǎo)電膠把鍍金的晶纖樣品貼在樣品架上,即可進(jìn)
行觀察。
選擇加速電壓20keV,調(diào)節(jié)放大倍數(shù)到聚焦和襯度最好.觀察晶
纖形貌及用EDS進(jìn)行微區(qū)分析。