在二維圖像上看到的是薄板結(jié)構(gòu)的斷面。經(jīng)常有人直接
測(cè)量斷面的寬度,把它當(dāng)成薄板的厚度。例如測(cè)量突觸前后膜之間的
間隙,橋粒和縫隙連接的厚度等。實(shí)際上,只有切片與膜垂直相
切割,斷面寬度才等于薄板結(jié)構(gòu)的厚度,一般而言,前者總是大
于后者。
從斷面寬度計(jì)算薄板厚度有兩種方法,一是算術(shù)平均法,二
是調(diào)和平均法。
在二維圖像上看到的是薄板結(jié)構(gòu)的斷面。任選薄板的一個(gè)表面
為標(biāo)準(zhǔn),這個(gè)面的截線與側(cè)試線有一些交叉點(diǎn)。從這些點(diǎn)向薄板的
對(duì)側(cè)截線作垂線。
在形態(tài)定量分析中,遇到三種誤差,即系統(tǒng)誤差、測(cè)量誤差
與抽樣誤差。應(yīng)區(qū)別對(duì)待。
系統(tǒng)誤差指由于某種原因使參數(shù)總是偏大或總是偏小。例如
上面講到的樣品收縮,總是使顆粒的數(shù)密度偏大,而顆粒的體訊
總是偏小。又如小截面漏計(jì)效應(yīng),切片厚度的影響
顆粒大小不均勻的影響,如不加校正,都會(huì)使參數(shù)偏離真實(shí)值。
對(duì)于系統(tǒng)誤差,凡是能校正的,盡量校正。不能校正的,只好作罷。
如果某一因素對(duì)各實(shí)驗(yàn)組的參數(shù)有基本機(jī)同的影響,就是未加校正,
也不妨礙對(duì)比實(shí)驗(yàn)做出的結(jié)論。