先進(jìn)的
測量顯微鏡通常測量的全過程由計算機(jī)操作
在國際照明委員會第63號出版物(CIE, 1984)中討論了進(jìn)行光譜測量的方法�,F(xiàn)在推
薦的一種方法是在所需的光譜區(qū)域連續(xù)地掃描,同時在用電子學(xué)方法規(guī)定的2 nm或5nm
的波段(由光譜的復(fù)雜程度決定)上進(jìn)行定時積分。因此,光譜的每一特性僅需測量一次。
使用更傳統(tǒng)的分立采樣方法也可以得到滿意的結(jié)果,這種方法中當(dāng)測量在每個5nm,的間隔
上進(jìn)行時,單色儀處于靜止?fàn)顟B(tài)。然而,采用分立采樣必需仔細(xì)考慮,以確保不失去光譜特
性或計算兩次。通常測量的全過程由計算機(jī)控制,并在線進(jìn)行所需且的計算。
有一種適用范圍很寬的單色儀,尺寸很小,有一個相應(yīng)的光電池,組成一個光潛輻射度
計的基本形式,加上相應(yīng)的輔助透鏡,就可成為能在一定距離上進(jìn)行測量的望遠(yuǎn)光譜輻射
計。