利用調(diào)X光顯微成像技術(shù),可以在無(wú)染色的情形下,獲得清晰的細(xì)胞和次細(xì)
胞等級(jí)影像。從獨(dú)特性、適用性、與未來(lái)改進(jìn)潛力方面考量,我們的方法和
其他的技術(shù)相較都較為優(yōu)異。目前獲得的解析度大致和光學(xué)顯微技術(shù)相同
,并且還可以有很大的改進(jìn)空間。軟X光顯微成像技術(shù)雖然擁有略佳的解析
度,但卻沒(méi)有辦法觀察厚度大于單層細(xì)胞厚度的樣晶。穿透式和掃描式電子
顯微鏡需要特定的樣晶準(zhǔn)備程式,并且樣晶的厚度同樣不能太厚。而我們方
法的優(yōu)異處在于,利用硬X光的高穿透力
,因此能容易地在保持樣晶的自然狀態(tài)下觀察動(dòng)物的整體內(nèi)部結(jié)構(gòu)及狀態(tài)。
事實(shí)上,目前尚沒(méi)有一種顯微技術(shù)可以像同調(diào)X光顯微術(shù)技術(shù)一樣,可以以
類似的高的解析度觀察厚試片