偏光顯微鏡的特點常用來檢測礦物晶體的雙折射
信息分類：生命科學(xué)資訊 作者:YIYI發(fā)布
偏光顯微鏡的特點常用來檢測礦物晶體的雙折射
偏光顯微鏡的雙折射性是如何檢測的
偏光顯微鏡的特點就是將光源改變成為偏振光進行檢測的方法，它鑒
定被檢測的物體是否具有單折射性和雙折射性，而物體的雙折射性質(zhì)
我們稱為各向異性，如果物體具有單折射性那么它也是各向同行。
在用偏振光檢測實驗發(fā)現(xiàn)被檢測的物體具有雙折射性質(zhì)的物質(zhì)都是以
晶體形態(tài)出現(xiàn)的，因此后來人們把偏光顯微鏡用來觀察物體的性能是
不是具有雙折射性質(zhì)。
所以我們經(jīng)常用偏光顯微鏡來檢測礦物晶體的雙折射性，以及在化學(xué)
實驗中產(chǎn)生的晶體是否具有雙折射性，在生物和植物組織細胞的觀察
過程中也經(jīng)常用到偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的原理比較復(fù)雜就不細說,而偏光顯微鏡在觀察物體是不是
具有雙折射性的晶體，因此在檢測的過程中就要用到起偏鏡，檢偏鏡，
補償器或相位片等，需要它們相互配合才能夠把物體的雙折射性檢測
出來 。
本文由出自上海光學(xué)儀器廠，轉(zhuǎn)載請注明
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