電鏡顯微結(jié)構(gòu)
電子顯微鏡是研究淀粉顆粒強(qiáng)有力的工具。掃描電鏡很適合用于研究淀粉顆粒的表
面特征。樣品必須包有一薄層能在真空下導(dǎo)電的物質(zhì),分辨率為0. 2 nm即可.順粒薄
片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)可由透射電鏡在幾千倍的放大倍數(shù)下觀察到。French 已描述過(guò)了
一些基礎(chǔ)性的研究。已用SEM研究了從供烤產(chǎn)品中分離出的小麥淀粉顆粒的表面變化
Gallant等(1992)用SEM來(lái)檢測(cè)土豆淀粉顆粒被胰。一淀粉酶部分水解后的情況,
經(jīng)過(guò)這一處理后呈現(xiàn)了顆粒晶型和非晶型的交替層,且顆粒表面附近有顆粒狀物。Fan-
non和BeMiller (1992)研究了糊化淀粉漿的性質(zhì)并用低沮電子顯微鏡觀察了顧粒殘余
物,他們認(rèn)為孩拉結(jié)構(gòu)差異與流變學(xué)特性休戚相關(guān)。Fannon等(1992)報(bào)道玉米、高
粱和粟米淀粉顆粒存在表面孔。也發(fā)現(xiàn)這種孔在小麥、黑麥、大麥淀粉大順粒的赤道溝