電子
顯微鏡的缺點(diǎn)是成像需要較長的掃描時(shí)間
光學(xué)顯微鏡(NSOM )、激光共聚焦掃描顯微鏡(CLSM)、廣場落射式
熒光顯微鏡、全內(nèi)反射熒光顯微鏡(TIRFM)
NSOM是在掃描探針顯微鏡基礎(chǔ)上,結(jié)合光學(xué)探測方法而發(fā)展起來的,可以達(dá)到
SO- 100nm址級(jí)的超衍射的空間分辨率(比可見光的衍射極限高出5-10倍)。NSOM
與AFM的特點(diǎn)十分相似,都是樣品近距離觀測(sample proximity method)、應(yīng)用掃
描探針、側(cè)向分辨率高(10^-100nm)、只能檢測固體分子等。另外,因?yàn)榧ぐl(fā)容積小,
它的信噪比很高。目前,NSOM已經(jīng)應(yīng)用到支持物或細(xì)胞膜上的單個(gè)熒光團(tuán)成像、
波譜分析及FRET檢測。雖然NSOM具有較高的分辨率,在單分子探測的研究中發(fā)揮了
很重要的作用,但是它也受一定的限制。例如,在掃描時(shí)需要通過復(fù)雜的控制系統(tǒng)來保
持樣品與探針針尖之間適當(dāng)?shù)木嚯x;由于光纖及其尖部的限制,輸出光的強(qiáng)度有限,對(duì)
于50-100nm的尖端輸出能員只能在1^-50nW;探針針一尖的再生率非常低;鍍鋁的探
針針尖能影響熒光的發(fā)射壽命和強(qiáng)度,因?yàn)榻饘黉X對(duì)分子的激發(fā)態(tài)有淬滅的作用。
CSLM的主要優(yōu)點(diǎn)是能進(jìn)行三維成像,信噪比較高,目前已經(jīng)用于單分子FRET檢測、
光譜分析、動(dòng)力學(xué)檢測等。它的主要缺點(diǎn)是成像需要較長的掃描時(shí)間。