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提升光電元件的性能實(shí)驗(yàn),電路板檢測(cè)顯微鏡

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

在光子晶體結(jié)構(gòu)中引入一層有別于原結(jié)構(gòu)的物質(zhì)作為缺陷層

（defect layer）時(shí)，將會(huì)破壞光子晶體的週期性排列，

導(dǎo)致原本完整的光子能隙產(chǎn)生漏光現(xiàn)象。從穿透光譜上來看，

光子能隙內(nèi)將出現(xiàn)若干波峰；因系由于缺陷層所引起，

我們稱之為缺陷模態(tài)（defect modes），這些缺陷模態(tài)出現(xiàn)的位置

與數(shù)量取決于缺陷層結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)，我們將在下段詳述。利用此特性，

已有相關(guān)團(tuán)隊(duì)提出在波導(dǎo)、光纖、激光共振腔、光濾波器等光電元件上的應(yīng)用

另一方面，若缺陷層具可調(diào)控的材料特性，

將可有效控制缺陷模態(tài)的光譜特性；此優(yōu)越的調(diào)控機(jī)制，

可進(jìn)一步提升光電元件的性能

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