以觀察表面形狀的變化為目的,在待觀察的試驗樣布的表面上,使用了平坦
的聚酯薄膜。經(jīng)雷射光處理后的 SEM 觀察照片如圖 1 所示。照片乃是利用一種
脈衝(Pulse)的能量,以 50mJ/cm2 和 200 mJ/cm2 間的脈衝能量差異來進行比較
的話,其結(jié)果能量較大的一方因侵蝕作用較多所以凸部的間隔也看得出越大
以照射次數(shù)來比較的話,以 200 mJ/cm2能量照射 5 次及 15 次,其中照射 15 次
的試驗樣布將會呈現(xiàn)比較鮮明的影像。亦即隨著照射能量或照射次數(shù)的增
加,凹凸的構(gòu)造將有變得越深的傾向。
至于電漿以及電子束處理后的表面形狀之變化,因均較雷射光處理更為微
細所以利用了 AFM 來進行表面變化的觀察,
為處理和電漿處理過之測試樣布的的大小規(guī)格(Scale)Z 軸(高度)方向是 300nm,
XY 軸(縱橫)方向分別是 5μm,電子束處理的測試樣布相同地也是分別為150nm 及 10μm。
從未處理的聚酯薄膜的表面觀察,即使到奈米等級領(lǐng)域也可觀察得出
平坦的部位,此與聚乙烯(Polyethylene)薄膜等的表面間有顯著的差異。若用來
觀察經(jīng)過 100W / 5分鐘時間電漿處理的測試樣布,即可觀看出凹凸的表面變
化。另一方面若換成經(jīng)過電子束處理的測試樣布來觀看的話,照射前后幾乎都
沒有變化,亦即并不會有如經(jīng)雷射光或電漿處理的侵蝕作用般之表面凹凸結(jié)構(gòu)的形成