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近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡量測(cè)技術(shù)簡(jiǎn)介

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:YIYI發(fā)布　

近場(chǎng)光學(xué)顯微術(shù)(SNOM)量測(cè)

在光纖所熔拉成的探針尖端，有大約50nm大小的孔徑，在結(jié)合原子力顯微儀技術(shù)以及鎖相量測(cè)技術(shù)，

使得近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡能夠突破光學(xué)繞射極限，觀察奈米級(jí)結(jié)構(gòu)的光電響應(yīng)。激光耦合進(jìn)入光纖，以50nm大小的范圍局部照射在太陽(yáng)能電池樣品表面，

并且藉由原子力回饋機(jī)制，探針光源與表面保持在10nm左右的距離。由各處照射后產(chǎn)生的光電流，經(jīng)由鎖相放大器擷取訊號(hào)，

得到表面形貌以及表面各處的光電響應(yīng)。

近場(chǎng)光學(xué)顯微術(shù)應(yīng)用在研究有機(jī)太陽(yáng)能電池以及多晶矽薄膜太陽(yáng)能電池等等

利用近場(chǎng)光學(xué)顯微術(shù)，有機(jī)太陽(yáng)能電池中的材料分離效應(yīng)以及多晶矽薄膜太陽(yáng)能電池的晶界電荷分離可以觀察到。

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