研究松散的單個礦物顆粒最通常的目的有:
①對某個礦物顆粒作快速準確鑒定;
②研究已鑒定礦物顆粒的某些能反映其溫度和壓力歷史的特殊物理
化學性質(zhì),或研究這種礦物獨特的化學組成或同位素組成;
③測定礦物的比重;
④對某一新礦物的描述,包括所有的物理、
光學和化學性質(zhì);
⑥研究能反映應變速率很緩慢的形變,或者快速沖擊效應歷史等方
面的特征;
⑥對單晶作光學和X 射線研究以及在光學定向與X 射線晶格參數(shù)作
對比時,都必需用單粒礦物。
單粒礦物除了容易作光學和X 射線鑒定外,其主要優(yōu)點是各種研究
礦物的技術(shù),如旋轉(zhuǎn)針、X 射線、離子探針、電子探針、掃描電鏡和掃
描透射電鏡等,都可用到礦物的同一個顆粒上,這樣就可準確地了解具
有特定微量元素組成的某一礦物所具有的各種性質(zhì)。
兩面拋光薄片中的礦物也可以用巖石顯微鏡、掃描電鏡、電子探針
和掃描透射電鏡來研究,但是用單粒礦物的最大優(yōu)點,就在于能快速準
確地作出鑒定,同時能獲得比重和單晶X 射線等方面的資料。