LCD是半導體故障分析，半導體檢測用顯微鏡采購！

LCD是半導體故障分析運用上最簡單也最廣泛的工具，嚴格說起來，LCD并不是一個機臺和儀器，它是附加在光學顯微鏡的一個技術。

此方法需把液晶均勻的滴在IC表面上，再把承載晶片或試片的基座加溫至某特定溫度范圍內(nèi)，此溫度必須低于液晶的轉(zhuǎn)態(tài)溫度，

供應商提供的液晶一般約在29℃至35℃間轉(zhuǎn)態(tài)，端看其化學成份或比例而定，利用物鏡與目鏡間裝設的一個偏光片，

我們可以觀察到轉(zhuǎn)態(tài)后的區(qū)域由透明轉(zhuǎn)為黑色

LCD的技巧通常應用在DC Failure具有大電流的案件上，假設缺陷是造成大電流的成因，當大電流通過這個缺陷，如metal bridge時，因為缺陷處阻值較大，功率散發(fā)也跟著變大，因此缺陷處溫度會比周圍溫度高，當此點溫度高過液晶轉(zhuǎn)態(tài)溫度時，液晶分子從規(guī)則性的排列轉(zhuǎn)變成零散的分布，因而阻止了極化光的反射，我們自然會在缺陷處看到一個明顯的黑點，為了使眼睛容易看到熱點，我們會使電源供應器在供應電壓與0V間做規(guī)律性的循環(huán)變換，如此熱點(hot spot)就會閃爍式地出現(xiàn)，便比較容易讓人觀察到熱點的存在