透射電子與特征X射線
在這里我們所說透射電子來說,則需要樣品標(biāo)本是非常薄
的,而樣品標(biāo)本厚度則需要比入射電子的一個有效的穿透
深度小得多。
在這樣的情況下有相當(dāng)一部分的入射電子穿透樣品標(biāo)本表
面而形成一個透射電子,對于這種透射電子可以放置于樣
品下面的電子檢測器進(jìn)行檢測。
而對于透射電子的信號的強(qiáng)度則取決于微區(qū)厚度、成分、
晶體的結(jié)構(gòu)以及晶體的晶向等等。
而對于特征X射線來說則是一個樣品中原子的內(nèi)喜憂參半
電子受到入射電子的一個激發(fā)電離時,原子處在一個能量
比較高的狀態(tài)下使得外層電子向內(nèi)層電子的位置進(jìn)行躍遷。