正交偏光顯微觀察需要注意的
信息分類：生命科學資訊 作者:miss-dong發(fā)布
正交偏光顯微觀察需要注意的
通常情況下我們使用偏光顯微鏡進行光軸切片干涉時，
則把一個斜交光軸和切片的光軸位置是傾斜的，而這時
光軸的切片平面則不在視域區(qū)域內(nèi)的。
我們可以分別分二軸晶體物質的干涉圖為垂直銳角等分
線切片二軸晶體物質的干涉圖與垂直鈍角等爭線切片二
軸晶體物質的干涉圖。
而對于斜交光軸切片二軸晶體物質的干涉圖則是一種比
較最常見到的檢測晶體物質垂直于光軸切片的現(xiàn)象。
這主要則表現(xiàn)為物質的單折射率與雙折射率上面，而對
于錐光鏡鑒定晶體光學性質，則主要是鑒定晶體的軸性
與興性以及切片的類型與光軸角等。
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