在使用錐光鏡進(jìn)行的晶體光學(xué)性質(zhì)的檢測(cè)均質(zhì)晶體是
檢測(cè)晶體特光學(xué)各向同性,而不同的振動(dòng)方向折射反
射后引起的晶體顏色
對(duì)于晶體物質(zhì)而言它的形成是具有一定的結(jié)晶習(xí)性的
,這樣才能夠構(gòu)成一定的形態(tài)結(jié)構(gòu)組織以及晶體的形
狀和大小。
同時(shí)是不能夠使用
偏光顯微鏡中的錐光鏡與上偏光鏡
的,這樣我們所檢測(cè)出的晶體物質(zhì)的形貌特征,就是
檢測(cè)出晶體的形態(tài)與晶體顆粒的大小情況。
而在于對(duì)在使用
顯微鏡進(jìn)行顯微觀察晶體物質(zhì)的光學(xué)
性質(zhì)時(shí),則是根據(jù)需要進(jìn)行選擇性的選擇所需要的要
求進(jìn)行檢測(cè)晶體的偏光性質(zhì)。