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如何利用偏光顯微鏡系統(tǒng)分析晶質(zhì)材料的顯微結(jié)構(gòu)

信息分類：生命科學(xué)資訊　　　　作者:miss-dong發(fā)布　

單偏光鏡下晶體形，解理，突起，顏色，多色性，

其它則有無(wú)包裹性與有無(wú)次生變化等等。

在正交偏光鏡下最高干涉色，折射率，消光類型與消

光角，以及延性符號(hào)等。

錐光鏡下均質(zhì)體與非均質(zhì)體的區(qū)別在有沒(méi)有干涉圖，

軸性，干涉圖的特征，通過(guò)不同切面方向，光性符號(hào)

定向切面。

利用偏光顯微鏡觀察晶體質(zhì)材料，可以得到在單偏光

下的觀察，或是正光偏光鏡下，一般按照單偏光、錐

光和其他順序進(jìn)行描述和記錄。

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